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HAST試驗(yàn)箱半導(dǎo)體高壓加速老化試驗(yàn)

作者：林頻儀器    發(fā)布日期：2023-11-29 16:23　
HAST試驗(yàn)箱是一種常用的半導(dǎo)體高壓加速老化試驗(yàn)設(shè)備，用于模擬高溫高濕環(huán)境下的老化情況。HAST是英文"Humidity-Accelerated Stress Test"的縮寫，意為濕度加速應(yīng)力測試。該試驗(yàn)箱可以在短時(shí)間內(nèi)模擬出長時(shí)間高溫高濕環(huán)境下的老化情況，以評估半導(dǎo)體器件的可靠性和壽命。

 
HAST試驗(yàn)箱通常具有以下特點(diǎn)：
1. 高溫高濕環(huán)境：能夠提供高溫高濕環(huán)境，通常溫度范圍為100°C至150°C，濕度范圍為85%至100%RH。
2. 高壓加速：通過加入高壓氮?dú)?，可以加速水分進(jìn)入器件的速度，從而加速老化過程。
3. 試驗(yàn)樣品容量：試驗(yàn)箱通常具有多個(gè)試驗(yàn)槽，可以同時(shí)測試多個(gè)樣品，提高效率。
4. 自動控制系統(tǒng)：具有溫度、濕度、壓力等參數(shù)的自動控制和監(jiān)測功能，可以確保試驗(yàn)過程的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
5. 安全保護(hù)措施：具有過溫保護(hù)、過濕保護(hù)、壓力保護(hù)等多種安全保護(hù)措施，確保試驗(yàn)過程的安全性。
 
HAST試驗(yàn)箱是半導(dǎo)體行業(yè)中常用的加速老化試驗(yàn)設(shè)備，可以幫助廠商評估產(chǎn)品的可靠性和壽命，提前發(fā)現(xiàn)潛在的問題，并采取相應(yīng)措施進(jìn)行改進(jìn)。
 
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