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HAST試驗(yàn)箱與高低溫試驗(yàn)之間的不同之處

作者：林頻儀器    發(fā)布日期：2023-04-19 13:43　
如今，在集成電路IC領(lǐng)域內(nèi)，環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備主要有HAST試驗(yàn)箱和高低溫試驗(yàn)箱這兩個(gè)，但是為什么HAST試驗(yàn)箱能夠成為集成電路IC可靠性測(cè)試的佳選呢？它們的區(qū)別又在哪里，我們一起來(lái)看一下。
 
HAST試驗(yàn)箱與高低溫試驗(yàn)之間的不同之處　
　一、這是因?yàn)镠AST試驗(yàn)箱是結(jié)合溫濕度、壓力條件的高加索試驗(yàn)，在高壓條件下加速濕氣滲透到外部保護(hù)物料和金屬導(dǎo)電層之間的界面滲入，本測(cè)試是用于識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制而且是破壞性的。
 
　二、高低溫試驗(yàn)箱能分為多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，有高低溫運(yùn)行測(cè)試、高低溫交變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試等等。雖然能測(cè)試的項(xiàng)目很多，但是可測(cè)試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。
 
　三、單一的溫濕度測(cè)試不夠準(zhǔn)確的測(cè)試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。但是HAST試驗(yàn)箱測(cè)試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調(diào))一體，多方面測(cè)試集成電路IC，評(píng)估產(chǎn)品的失效機(jī)制。
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