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看了這些讓你對(duì)HAST試驗(yàn)箱有所了解

作者:林頻儀器    發(fā)布日期:2023-03-31 09:23 
看了這些讓你對(duì)HAST試驗(yàn)箱有所了解
一、HAST試驗(yàn)箱是一種設(shè)備,它能夠加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命。用于調(diào)查和分析電子元件、機(jī)械部件的摩擦消耗和使用壽命、故障分布函數(shù)的形狀以及故障效率上升的原因。
 
二、隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大部分半導(dǎo)體設(shè)備在不失效的情況下,可以承受長(zhǎng)期的THB測(cè)試,所以檢測(cè)時(shí)間也隨之增加了不少,來(lái)確認(rèn)成品的質(zhì)量。
 
三、采用新的壓力蒸鍋試驗(yàn)方法,以提高試驗(yàn)效率,減少試驗(yàn)時(shí)間。壓力鍋試驗(yàn)方法主要分三、為PCT和USPCT兩種類型(HAST)目前,IEC(電工委員會(huì))標(biāo)準(zhǔn)化了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)。
 
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